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集成电路/EVAL-ADUCM360QSPZ
商品型号:EVAL-ADUCM360QSPZ

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品牌:ADI(亚德诺)
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  • 商品名称:EVAL-ADUCM360QSPZ
  • 商品品牌:ADI(亚德诺)
  • 商品类别:集成电路
  • 二级分类:集成电路
  • 商品型号:

    EVAL-ADUCM360QSPZ

  • 封装规格:-
  • 商品编号:ADI1811505091
  • 商品重量:0.000100kg
EVAL-ADUCM360QSPZ中文资料
EVAL-ADUCM360QSPZ中文资料第10页精选内容: ADuCM360 / ADuCM361数据表版本B |第10页,共24页 8以特定增益进行系统校准将消除此增益下的误差. 9用一个ADC测量一个通道测量输入电流.如果两个ADC测量相同的输入通道,则输入电流会增加(大约加倍). 10使用方法测量. 11参考DAC线性度使用0x0AB到0xF30的缩减代码范围进行计算. 12根据JEDEC标准22,方法A117,耐受性达到10,000次循环,并且在-40°C,+ 25°C和+ 125°C下测量.典型的25°C耐久性为170,000次循环. 13 根据JEDEC标准22,方法A117 ,结温(T J )= 85°C时的 保持寿命相等 . 保持寿命随结温而降低. 14电压输入电平仅在驱动来自电压源的XTAL输入时才有意义.如果晶体直接连接,内部晶体接口决定共模电压. 15 Flash / EE存储器编程和擦除周期中消耗的典型额外电源电流为7 mA. 16 ADC的 总I DD 包括PGA≥32的数字,输入缓冲器,数字接口和Σ-Δ调制器. ADC0和ADC1的RMS噪声分辨率内部参考(1.2 V)表2至表5给出了使用内部参考电压(1.2 V)的ADC0和ADC1的均方根噪声指标.表2和表3列出两种ADC的均方根噪声具有不同的增益和输出更新速率值.表4和表5列出了有效的典型输出均方根噪声具有不同增益和输出更新速率值的两个ADC在正常模式下的位数(ENOB). (显示峰 - 峰ENOB在括号内.)表2. RMS噪声与增益和输出更新速率,内部参考电压(1.2 V),增益= 1,2,4,8和16 RMS噪声(μV)更新比率(Hz)印章/辛格 ADCFLT寄存器值增益= 1, ±V REF , ADCxMDE = 0x01增益= 2, ±500 mV, ADCxMDE = 0x11增益= 4, ±250 mV, ADCxMDE = 0x21增益= 8, ±125 mV, ADCxMDE = 0x31增益= 16, ±62.5 mV, ADCxMDE = 0x41 3.53在/的Sinc
EVAL-ADUCM360QSPZ关联型号
机译版中文资料(1/10) 英文原版数据手册(1/10)

*EVAL-ADUCM360QSPZ中文资料的内容均为机器翻译结果,仅供参考

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