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TI(德州仪器) AFE2256
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AFE2256

AFE2256

正在供货

适用于数字 X 射线平板检测器的 256 通道模拟前端 (AFE)

产品详情
  • 说明
  • 特性
  • 参数
  • 封装 | 引脚 | 尺寸

AFE2256 是一款 256 通道模拟前端 (AFE),旨在满足基于平板探测器 (FPD) 的数字 X 射线系统要求。该器件包含 256 个积分器、1 个选择满量程电荷量的可编程增益放大器 (PGA)、1 个带有双存储区的相关双采样器 (CDS) 以及 256:4 模拟多路复用器。

此外,该器件还 具备 四个 16 位逐次逼近寄存器 (SAR) 模数转换器 (ADC)。来自 ADC 的串行数据采用低压差分信令 (LVDS) 格式。

打盹模式和掉电模式能够大幅降低功耗,这在由电池供电的系统中特别有用。

如需完整数据表或其他设计资源,请点击:请求获取 AFE2256

  • 256 通道
  • 片上,16 位模数转换器 (ADC)
  • 光电二极管抗短路
  • 高性能:
    • 噪声:750 个电子 RMS
      (1.2pC 输入电荷范围)
    • 低相关噪声
    • 积分非线性:
      内部 16 位模数转换器 (ADC) 的 ±2 最低有效位 (LSB)
    • 扫描时间:
      • < 20µs 至 204.8µs
  • 集成:
    • 六个可选满量程输入范围:
      0.6pC(最小值)至 9.6pC(最大值)
    • 内部定时发生器 (TG)
    • 内置相关双采样器
    • 流水线式积分与读取提高了吞吐量:允许在积分过程中读取数据
    • 串行低压差分信令 (LVDS) 输出
  • 简单电源方案:
    • AVDD1 = 1.85V
    • AVDD2 = 3.3V
  • 低功耗
  • 打盹模式和完全掉电模式
  • 定制薄膜覆晶 (COF) 封装

应用

  • X 射线平板探测器
  • 电荷探测器
  • 电容测量

All trademarks are the property of their respective owners.

Number of input channels256
Resolution (Bits)16
FeaturesInternal Reference Buffer, Nap Mode, Power Down, X-ray
Interface typeSPI/LVDS
Operating temperature range (°C)0 to 85
RatingCatalog
COF (TDR)3251039.525 mm² 48.35 x 21.5
COF (TDU)3201064 mm² 38 x 28
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