特性
- 完整的20位数据采集系统
- 8个内部缓冲通道同步采样
- 每通道吞吐量1 MSPS
- 差分、宽共模范围输入
- 输入漏电流:±75 pA(典型值,25°C)
- 满量程输入阶跃建立时间< 300 ns
- 集成基准电压源和基准电压源缓冲器(4.096 V)
- 集成电源去耦电容
- 每通道45 mW (1 MSPS),功耗与吞吐量成比例
- 极少的外部信号调理
- 无缝高动态范围
- 每样本、每通道自动增益范围
- 保持ppm级INL
- 每通道SoftSpan输入范围,双极或单极
- ±40 V、±25 V、±20 V、±12.5 V、±10 V、±6.25 V、±5 V、±2.5 V
- 0 V至40 V、25 V、20 V、12.5 V、10 V、6.25 V、5 V、2.5 V
- 轨到轨输入过驱容差
- 高性能
- INL:±160 μV(典型值,±40 V范围)
- SNR:97.2 dB单次转换(典型值,±40 V范围)
- DR:111.4 dB单次转换(典型值,±40 V范围)
- THD:−117 dB(典型值,±40 V范围)
- 共模抑制比(CMRR):120 dB(典型值)
- 数字灵活性
- SPI CMOS(0.9 V至5.25 V)和LVDS串行输入和输出
- 可选24位数字均值过采样
- 可选失调、增益和相位校正
- 7.00 mm × 7.00 mm、64引脚BGA完整解决方案尺寸
产品详情和应用
AD4858是一款完全缓冲的8通道同步采样、20位、1 MSPS数据采集系统(DAS),具有差分、宽共模范围输入。其功能架构如数据手册中的图1所示。AD4858采用5 V低电压电源、灵活的输入缓冲器电源供电,并使用精密低漂移内部基准电压源和基准电压源缓冲器,支持独立配置每个通道的SoftSpan范围,以匹配本机应用信号摆幅,从而尽可能地减少额外的外部信号调理。为了进一步充分扩大单次转换动态范围,AD4858采用了无缝高动态范围(SHDR)技术。通道的输入信号路径增益使能后会逐个样本地自动优化,从而在不影响线性度的情况下,尽可能地降低每个样本上的转换器噪声。
AD4858具有11 MHz带宽、皮安级输入模拟缓冲器、宽输入共模范围和120 dB共模抑制比(CMRR),因此该DAS能直接将INx+和INx−上任意摆幅的输入信号数字化。AD4858不仅提供输入信号灵活性,而且具有±160 μV积分非线性(INL)、20位无失码特性、97.2 dB信噪比(SNR)和111.4 dB动态范围(DR),使其非常适用于需要在紧凑的解决方案中实现高准确性、吞吐量和精度的应用。使能24位过采样可进一步改善SNR和动态范围。可选的每通道失调、增益和相位调整提供了校准和消除DAS上游系统级误差的能力。
AD4858具有串行外设接口(SPI)寄存器配置总线(0.9 V至5.25 V),并支持低压差分信号总线(LVDS)和互补金属氧化物半导体(CMOS)转换数据输出总线,可使用LVDS/CMOS引脚进行选择。可在CMOS模式下采用1至8条数据输出线路,使用户能够优化总线宽度和吞吐量。
AD4858的7.00 mm × 7.00 mm、64引脚球栅阵列(BGA)包括所有关键电源和基准电压源旁路电容,充分缩减了完整解决方案尺寸和元件数量,并降低了对应用印刷电路板(PCB)布局的敏感性。其工作温度范围为−40°C至+125°C的扩展工业温度范围。
应用
- 自动测试设备
- 航空电子和航空航天产品
- 仪器仪表和控制系统
- 半导体制造
- 测试与测量



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