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特性

• 高速：1VP-P时为2Gbps，高达80% VP-P
• 每通道功耗低至0.9W
• 宽电压范围：-1.25V至+6.25V，高达13.5V VHH
• 低泄漏模式：5nA（最大值）
• 集成即时终止（第三级驱动）
• 集成VHH高压（第四级驱动）
• 集成电压箝位
• 集成无源负载
• 集成共用/每引脚PMU多路复用器开关
• 集成具有增益和失调校准的电平设置器
• 驱动器输出和比较器输入均提供可编程线缆压降补偿
• 为驱动器输出提供四种摆率设置
• 超低时序离散度：±30ps
• 外部元件数很少
• 具有SPI兼容串行控制接口，时钟频率为50MHz

产品详情和应用

MAX32001是一款面向测试器市场的全集成、双通道、高性能、引脚电子驱动器/比较器/负载(DCL)，内置电平设置器及PMU驱动和检测开关。每个通道含一个四级引脚驱动器、窗口比较器、无源负载、动态箝位、驱动/检测MUX开关、一个高压(VHH)可编程电平、线缆压降补偿(CDC)和14个独立电平稳定DAC。MAX32001提供用于驱动器输出和比较器输入的可编程CDC、在典型数据路径传输线变化范围内优化性能的可调驱动器输出电阻、摆率调节和可编程超电压驱动器输出。

MAX32001驱动器的高速工作电压范围宽达7.5V（-1.25V至+6.25V），VHH可编程范围为0V至+13.5V。工作模式包括高阻抗、有源端接（第三级驱动）和VHH（第四级驱动）模式。即使在低电压摆幅下，该器件也具有高度线性。该驱动器提供与大多数高速逻辑系列兼容的高速差分控制输入。窗口比较器在摆率、脉冲宽度和过驱动电压变化范围内的时序偏差超低。在高阻抗模式下，MAX32001具有动态箝位功能，可抑制高速被测设备(DUT)波形。±14mA无源负载在与比较器结合使用时有助于进行快速接触测试，并可用作开漏/集电极DUT输出的上拉/下拉电阻。PMU驱动/检测MUX开关提供驱动和测量电流或电压。该器件通过SPI™兼容型串行接口配置。

MAX32001采用小尺寸、10mm x 10mm、68引脚TQFN封装，该封装顶部带有裸露焊盘，便于散热。在禁用无源负载的条件下，每通道在整个工作电压范围内的典型功耗为1.05W。MAX32001工作时的内部芯片温度范围为+50°C至+80°C。

应用

• 存储器ATE测试仪
• SOC ATE测试仪
• 晶圆探针测试仪
• 分立式ATE测试仪
• 测试与测量设备