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推荐新设计使用
说明
- 完整的 20 位数据采集系统
- 8 个内部缓冲通道同步采样
- 每通道吞吐量 1 MSPS
- 具有宽共模范围的差分输入
- 25°C 时的输入漏电电流为 ±75 pA（典型值）
- 满量程输入步进稳定时间 < 300 ns
- 集成基准和基准缓冲器 (4.096 V)
- 集成电源去耦电容器
- 1 MSPS 时每通道 45 mW，功率随吞吐量缩放
- 外部信号调理极少
- 无缝高动态范围
- 每个样本、每个通道自动增益范围
- 保持 ppm 级 INL
- 每通道 SoftSpan 输入范围，双极或单极
- ±40 V、±25 V、±20 V、±12.5 V、±10 V、±6.25 V、±5 V、±2.5 V
- 0V 至 40V、25V、20V、12.5V、10V、6.25V、5V、2.5V
- 轨到轨输入过载容差
- 高性能
- INL：±160 μV（典型值）（±40 V 范围）
- SNR：97.2 dB 单转换（典型值）（±40V 范围）
- DR：111.4 dB 单转换（典型值）（±40V 范围）
- 总谐波失真：−117 dB（典型值）（±40 V 范围）
- CMRR：120 dB（典型值）
- 数字灵活性
- SPI CMOS（0.9V 至 5.25V）和 LVDS 串行输入和输出
- 可选过采样和 24 位数字平均法
- 可选漂移、增益和相位校正
- 7.00 mm × 7.00 mm、64 球 BGA 完整解决方案尺寸
特性
AD4858 是一款全缓冲、8 通道同步采样、20 位、1 MSPS 数据采集系统 (DAS)，具有差分、宽共模范围输入。该系统的功能架构如数据手册中的图 1 所示。AD4858 采用 5 V 低压电源（灵活的输入缓冲器电源）供电，并使用精密低漂移内部基准和基准缓冲器，允许独立配置每个通道的 SoftSpan 范围以匹配本机应用信号摆幅，从而最大限度地减少额外的外部信号调理。为了进一步最大化单转换动态范围，AD4858 采用无缝高动态范围 (SHDR) 技术。启用后，通道的输入信号路径增益会在逐样本的基础上自动优化，从而最大限度减少每个样本上的转换器噪声，而不影响线性度。
AD4858 具有 11 MHz 带宽、皮安输入模拟缓冲器、宽输入共模范围和 120 dB 共模抑制比 (CMRR)，允许 DAS 直接数字化 INx+ 和 INx− 上任意摆幅的输入信号。该系统的输入信号灵活性结合 ±160μ V 积分非线性（INL）、20 位无失码、97.2 dB 信噪比 (SNR) 和 111.4 dB 动态范围 (DR)，使 AD4858 成为需要在紧凑的解决方案中提供高准确性、高吞吐量、高精度的应用的理想选择。使能 24 位过采样可进一步提高 SNR 和动态范围。可选的每通道偏移、增益和相位调整提供了校准和消除 DAS 上游系统级误差的能力。
AD4858 具有串行外设接口 (SPI) 寄存器配置总线（0.9 V 至 5.25 V），并支持低压差分信号总线 (LVDS) 和互补金属氧化半导体 (CMOS) 转换数据输出总线，可使用 LVDS/CMOS 引脚进行选择。在 CMOS 模式下可采用 1 至 8 条数据输出线，从而允许用户优化总线宽度和吞吐量。
AD4858 采用 7.00 mm × 7.00 mm、64 球栅阵列 (BGA) 封装，包括所有关键电源和基准电压源旁路电容，最大限度地减少了整个解决方案的尺寸和元件数量，并降低了对应用印刷电路板 (PCB) 布局的灵敏度。该系统可在 −40°C 至 +125°C 的扩展工业级温度范围内工作。
应用
- 自动测试设备
- 航空电子和航天
- 仪器仪表和控制系统
- 半导体制造
- 测试和测量
